德国国家CIS微系统传感器研究院院长Thomas Ortlepp 博士一行莅临上海星申仪表有限公司访问交流

2025 年 9 月 30 日，德国国家CIS微系统传感器开发研究院院长Thomas Ortlepp 博士、技术专家 Lorenz Chen 一行访问上海星申仪表有限公司（以下简称 “星申仪表”），围绕3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片技术开展深度合作，此次合作为耐辐照压力传感器芯片技术协同创新注入新动能，为耐辐照压力传感器领域的关键技术突破提供新思路。

Thomas Ortlepp 博士是上海星申仪表董事长陈耀的老朋友，近几年多次来访公司进行学术交流。此次交流过程中，双方将重点聚焦国际最新3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片，尤其针对高辐射环境下传感器芯片领域的核心技术难点展开深入探讨。Thomas Ortlepp 博士结合德国在CIS微系统微型化领域的深厚技术积淀，以及在高能物理研究领域的长期积累，向星申仪表团队分享了耐辐照传感芯片技术的前沿理论成果与最新试验数据。作为当前国际该领域的顶尖技术方向，其提出的抗干扰解决方案，为提升传感器在复杂辐射场中的稳定性与精准度提供了关键思路，为双方后续技术融合奠定重要基础。

上海星申核工业仪表事业部副总经理蒋楠女士指出，在核电厂高辐照环境工况苛刻，对传感器的耐辐照性能、稳定性与精准度要求极高。此次星申研发团队与德国国家CIS微系统传感器研究院的技术交流合作，将充分整合双方在产品应用、技术研发上的优势，加速3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片领域的关键技术突破。

关于德国国家CIS微系统传感器开发研究院院长Thomas Ortlepp 博士，2025年9月25日，在上海跨国采购会展中心，中国（上海）国际传感器技术与应用展览会——“压力传感器创新产业论坛”上，作为演讲嘉宾关于3D-MEMS技术耐辐照级压力传感器芯片主题演讲。